계측기전문 뉴텍계기

Hartip 3210

* 표준 Impact Device D
- 측정물 최소 두께: 5mm 이상

* 케이블타입 / 무선타입 임팩트 디바이스
* USB 전원공급
* 정확도 향상

제품소개

HARTIP 3210은 첨단 기술과 기능을 갖춘 새로운 세대의 Leeb 경도 기입니다.
테스터는 새로운 특허 듀얼 코일 센서 기술을 적용하여 테스터를 이전 모델보다

더 정확하게 만듭니다. 모든 충격 장치 (프로브)는 충격 방향을 설정할 필요가 없습니다.

HARTIP 3210은 아날로그 충격 장치와 무선 RF 프로브 모두에서 작동 할 수 있습니다.
측정 값은 무선 또는 케이블을 통해 PC 및 프린터로 다운로드 할 수 있습니다.

HARTIP 3210은 PC 케이블을 통해 배터리가없는 USB 전원 공급 장치로도 작동 할 수 있습니다.

제품특징

* 무선 디지털 / 케이블 아날로그 호환
* 다른 영향력 방향을 설정할 필요가 없음
* 듀얼 코일 기술로 더 높은 정확도
* 320 x 240 픽셀의 TFT 대형 컬러 LCD
* 멀티 컬러 스타일 - 햇빛 아래에 맞게
* 멀티 디스플레이 모드 - 통계, 막대 그래프 등
* 데이터를위한 다중 저장 모드

* 다중 통계 계산
* 다국어 선택 (총 10 개 언어)
* 온라인 및 화면 복사 인쇄물 인쇄
* 소리 알림
* 실제 날짜와 시간
* 통합 또는 개별 스케일을위한 재조정
* 운영자, 부품 번호, 절차 번호. 기록

제품특징

제품사양

SADT HARTIP 3210
측정원리	리브 경도 측정
정확도(Accuracy)	±0.3% @ HL=800, Repeatability: ±2HL
디스플레이	2.8" 320 x 240 TFT color LCD - fittable under sunshine
경도 단위(Hardness scale)	HL / HRC / HRB / HB / HV / HS / HRA /σb
측정범위(Measuring range)	HL170-960 / HRC1.3-78.2 / HRB1.2-139.7 / HB28-1027 / HV45-1221 / HS4.0-112.1 / HRA1.3-88.5 / σb(rm)118-3315N/mm2
임팩트 디바이스(Impact device)	r/f wireless(무선) probe D / standard cable probe D DC / D+15 / C / G / E / DL (Optional)
r/f communication distance	10m in space
r/f frequency	2.4GHz
Impact direction	Universal angle type
Materials and curves	11 common metal materials, 60 conversion curves
저장(Memory)	25000 data
통계(Statistics)	* 단일 그룹 분석 - 평균, 최대, 최소, 극한 편차, 표준 편차, 첨도 계수, 왜도 계수, 합격률, 기둥 선도, 정규 분포 검정 및 균일 분포 검정 * 이중 그룹 분석 - 평균값, 표준 편차, 합격률 및 분배율에 대한 유의미한 차이 테스트
Re-calibration	* 통합 또는 개별 척도를위한 보정
Indicator	Upper limit / Lower limit / low battery / buzzer warning / date and time
Communication interface	2.4G wireless / USB / RS232 / Bluetooth(optional)
Continous working time	>40 hours
전 원	1.5V AA alkaline battery x 4 / 1.2V nickel-hydrogen rechargerable battery x 4 / 3.7VLi-ion rechargeable battery x 4 / USB power supply
동작 온도	-10°c~+45°c
크기 (mm)	195 x 84 x 38
무게(g)	550
규격(Standards)	Conforming to ASTM A956, DIN 50156, GB/T 17394-1998

Impact Device 종류 및 특징

Type	특 성
D	(기본) 대부분의 경도 측정에 활용되는 표준형 디바이스. - 측정물 최소 두께: 5mm 이상.
DC	길이가 매우 짧은 impact device 이며 그 외의 사양은 type D 와 동일 함.
	- 공간이 좁아서 표준 디바이스인 D 타입으로 측정이 불가할 경우 선택 가능
	- holes and cylinders
	- 조립된 기계 장치의 내부 측정
D+15	전면부가 slim한 구조
	적용:	- 홈 부위나 움푹 파진 내부 측정에 용이.
DL	전면부가 매우 slim 한 구조 (좁은 부위 측정에 용이)
	적용:	- 매우 좁은 부위 측정
		- 홈 부분의 바닥측정 등
C	표준 Device 인 D 타입보다 impact energy를 약하게 한 디바이스.
	적용	- 표면 경화 또는 코팅 부품
		- 측정물 최소 두께: 1mm.
		- 얇은 측정물 또는 충격에 민감한 부품
G	Impact energy 를 강화한 디바이스 ( 표준 D형 디바이스보다 약 9 배 강한 impact)
	적용:	- Brinell hardness range 전용
		- 표면 후 가공을 하지 않는 대형 주조물 및 단조 부품.